7200.1 0以前Building Self Test(自校準)

Self writing 是真正的low level format
邊做碟片效果測試 邊做servo pattern 寫入
Servo Pattern 寫入方法

Self Writing 前的啟動
1.

指令E4E  檢查已做好的self writing 流程跟時間 (Exam 4E)
指令T4E  檢驗預定做的Self Writing流程

Self Writing 啟動方式

1.須在T級下, 建議加載(APP+cert ) 後  再執行 
   載入cert table 按Ctrl- T 載入
2.N2,,22  (第二步開始做 ,,22 是確定執行)   , (所以 N94,,22   是 從 94 開始)
   再按ctrl -t

硬碟AGE

硬盤安裝和伺服校正測試
TEST 01 - 製造臨時日誌
TEST 02 - 格式化和測試錯誤日誌
磁頭和電路校正測試
TEST 03 - 伺服校正信息
TEST 04 - 斜波加載/卸載測試
TEST 05 - 傳感器滯後測試
TEST 06 - 磁頭切換測試
TEST 07 - RUNOUT補償測試
TEST 08 - 當檢查伺服錯誤時盤上寫入2T類型
TEST 09 - 磁頭低飛顯示
TEST 0A - 磁頭穩定性測試
TEST 0C - 讀取伺服缺陷測試位置
TEST 0D - 重學RRO ZAP測試
TEST 0E - 尋找跳過柱面測試（還未實現過）
TEST 0F - 當前寫測試 磁頭和電路校正測試
TEST 10 - 1E, 2A - 2E 適配區域#（最後區域）通過 0 -所有磁頭
TEST 1F - 顯示適配性，VCO，和DIODE溫度設置
TEST 2F - 顯示FIR適應性設置 伺服性能驗證測試
TEST 20, TEST 60 - 伺服訪問次數
TEST 21, TEST 25 - RRO/NRRO 測試
TEST 23 - 開始/停止 （10次）
TEST 24 - 開始/停止 （2000次）
TEST 29 - 伺服缺陷掃瞄
缺陷查找和再分配測試
TEST 30 - 驗證所有磁盤組讀取，AT級
TEST 31 - 楔形缺陷掃瞄. 磁頭 0-1無讀取級，50寫級
TEST 32 - 楔形缺陷掃瞄. 磁頭 2-3無讀取級，50寫級
TEST 36 - 在對磁頭0-1楔形掃瞄中查找出來的缺陷進行定位
TEST 37 - 在對磁頭2-3楔形掃瞄中查找出來的缺陷進行定位
TEST 3A - 使用1重複讀取所有磁頭拋光和缺陷測試，重複50次
TEST 3B - 建立缺陷表；填充受損磁頭0，1
TEST 3C - 建立缺陷表；填充受損磁頭2，3
TEST 3D - 建立缺陷表；填充受損磁頭4，5
TEST 3E - 建立缺陷表；填充受損磁頭6，7
TEST 3F - 回送測試，寫通過測試
錯誤率性能測試
TEST 40- 開始/停止（10次）
TEST 41- 磁道侵入
TEST 42- SPIN STAND模擬器- 區域較小錯誤碧綠
TEST 43- RAM 測試
TEST 46- 數據編譯比率
TEST 47- 冷寫/磁道擦除顯示
TEST 48- 錯誤率，寫通過
TEST 49- 寫/讀/比較（零式樣）
TEST 4A- 補償係數檢測
TEST 4B- 讀
TEST 4B -所有磁道冷寫顯示
TEST 4C- 磁頭飛行高度測量
TEST 4D- 收集自動FA數據
TEST 4E- 檢查積累健康和創建自檢概要
TEST 4F- 失敗磁盤測試
TEST 50- 通過磁盤測試