7200.1 0以前Building Self Test(自校準)

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    版本為 19:28, 6 Nov 2024

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    servo1.png

     

    servo2.png

    Self Test 是真正的low level format
    邊做磁訊號效果測試 邊做servo pattern 寫入


    啟動方法:

    先從其他顆硬碟備份LDR

    進入安全模式

    載入 Cert code

    CERT table 中有99要改掉 CERT 可以另存 module 改掉 後 , 再額外指定
    Self Test  前的啟動

    1.指令E4E  檢查已做好的self Test 流程跟時間 (Exam 4E)
       指令T4E  檢驗預定做的Self Test流程
     


    Self Writing 啟動方式

    1.以安全模式加載 LDR 請參考圖
    LDR.png
       
    在T級下, 加載(APP+cert )  按下ctrl-r 
      再輸入 # 先改序號
    前三碼跟磁頭有關 不可亂輸入 如果磁頭沒變化就一樣
    再輸入pw 序號
     
    2.N2,,22  (2代表從第2步開始做 ,,22 是確定執行)   , (所以 N94,,22   是 從 94 開始)
       再按ctrl -t執行
      

     . 可以看到目前AGE 
       硬碟AGE 說明 代表目前硬碟狀況

    硬盤安裝和伺服校正測試
    TEST 01 - 製造臨時日誌
    TEST 02 - 格式化和測試錯誤日誌
    磁頭和電路校正測試
    TEST 03 - 伺服校正信息
    TEST 04 - 斜波加載/卸載測試
    TEST 05 - 傳感器滯後測試
    TEST 06 - 磁頭切換測試
    TEST 07 - RUNOUT補償測試
    TEST 08 - 當檢查伺服錯誤時盤上寫入2T類型
    TEST 09 - 磁頭低飛顯示
    TEST 0A - 磁頭穩定性測試
    TEST 0C - 讀取伺服缺陷測試位置
    TEST 0D - 重學RRO ZAP測試
    TEST 0E - 尋找跳過柱面測試(還未實現過)
    TEST 0F - 當前寫測試 磁頭和電路校正測試
    TEST 10 - 1E, 2A - 2E 適配區域#(最後區域)通過 0 -所有磁頭
    TEST 1F - 顯示適配性,VCO,和DIODE溫度設置
    TEST 2F - 顯示FIR適應性設置 伺服性能驗證測試
    TEST 20, TEST 60 - 伺服訪問次數
    TEST 21, TEST 25 - RRO/NRRO 測試
    TEST 23 - 開始/停止 (10次)
    TEST 24 - 開始/停止 (2000次)
    TEST 29 - 伺服缺陷掃瞄
    缺陷查找和再分配測試
    TEST 30 - 驗證所有磁盤組讀取,AT級
    TEST 31 - 楔形缺陷掃瞄. 磁頭 0-1無讀取級,50寫級
    TEST 32 - 楔形缺陷掃瞄. 磁頭 2-3無讀取級,50寫級
    TEST 36 - 在對磁頭0-1楔形掃瞄中查找出來的缺陷進行定位
    TEST 37 - 在對磁頭2-3楔形掃瞄中查找出來的缺陷進行定位
    TEST 3A - 使用1重複讀取所有磁頭拋光和缺陷測試,重複50次
    TEST 3B - 建立缺陷表;填充受損磁頭0,1
    TEST 3C - 建立缺陷表;填充受損磁頭2,3
    TEST 3D - 建立缺陷表;填充受損磁頭4,5
    TEST 3E - 建立缺陷表;填充受損磁頭6,7
    TEST 3F - 回送測試,寫通過測試
    錯誤率性能測試
    TEST 40- 開始/停止(10次)
    TEST 41- 磁道侵入
    TEST 42- SPIN STAND模擬器- 區域較小錯誤碧綠
    TEST 43- RAM 測試
    TEST 46- 數據編譯比率
    TEST 47- 冷寫/磁道擦除顯示
    TEST 48- 錯誤率,寫通過
    TEST 49- 寫/讀/比較(零式樣)
    TEST 4A- 補償係數檢測
    TEST 4B- 讀
    TEST 4B -所有磁道冷寫顯示
    TEST 4C- 磁頭飛行高度測量
    TEST 4D- 收集自動FA數據
    TEST 4E- 檢查積累健康和創建自檢概要
    TEST 4F- 失敗磁盤測試
    TEST 50- 通過磁盤測試

    AGE 50正常就為正常 再寫入APP to HDD 就可


          

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