7200.1 0以前Building Self Test(自校準)

Self Test 是真正的low level format 具有良好維修效果.
邊做磁訊號效果測試 邊做servo pattern 寫入
是工廠標準生產流程也是RMA必跑測試
像Seagte 是設計專用機台以TTL 連接硬碟通訊

限於智財權,東歐Hacker 想盡辦法去做協定分析.
找出低階通訊協定,再自行以軟硬體去包裝

使用昂貴 PC3000 UDMA 啟動方法:

先從其他同系列 +同主控晶片組 硬碟備份LDR

從這開始

1.進入安全模式

2.切換Bandrate 速度為 最高

Self Test  前的啟動

Self Writing 啟動方式

1.以安全模式加載 LDR 請參考圖

   
如果 CERT table 中有99要改掉(99=stop)   CERT 可以另存 module 改掉 後 , 再額外指定



指令E4E  檢查已做好的self Test 流程跟時間 (Exam 4E)
指令T4E  檢驗預定做的Self Test流程
 

  再輸入 # 先改序號
前三碼跟磁頭有關 不可亂輸入 如果磁頭沒變化就一樣
再輸入pw 序號
 
2.N2,,22  (2代表從第2步開始做 ,,22 是確定執行)   , (所以 N94,,22   是 從 94 開始)
   再按ctrl -t執行
  

 . 可以看到目前AGE 
   硬碟AGE 說明 代表目前硬碟狀況

硬盤安裝和伺服校正測試
TEST 01 - 製造臨時日誌
TEST 02 - 格式化和測試錯誤日誌
磁頭和電路校正測試
TEST 03 - 伺服校正信息
TEST 04 - 斜波加載/卸載測試
TEST 05 - 傳感器滯後測試
TEST 06 - 磁頭切換測試
TEST 07 - RUNOUT補償測試
TEST 08 - 當檢查伺服錯誤時盤上寫入2T類型
TEST 09 - 磁頭低飛顯示
TEST 0A - 磁頭穩定性測試
TEST 0C - 讀取伺服缺陷測試位置
TEST 0D - 重學RRO ZAP測試
TEST 0E - 尋找跳過柱面測試（還未實現過）
TEST 0F - 當前寫測試 磁頭和電路校正測試
TEST 10 - 1E, 2A - 2E 適配區域#（最後區域）通過 0 -所有磁頭
TEST 1F - 顯示適配性，VCO，和DIODE溫度設置
TEST 2F - 顯示FIR適應性設置 伺服性能驗證測試
TEST 20, TEST 60 - 伺服訪問次數
TEST 21, TEST 25 - RRO/NRRO 測試
TEST 23 - 開始/停止 （10次）
TEST 24 - 開始/停止 （2000次）
TEST 29 - 伺服缺陷掃瞄
缺陷查找和再分配測試
TEST 30 - 驗證所有磁盤組讀取，AT級
TEST 31 - 楔形缺陷掃瞄. 磁頭 0-1無讀取級，50寫級
TEST 32 - 楔形缺陷掃瞄. 磁頭 2-3無讀取級，50寫級
TEST 36 - 在對磁頭0-1楔形掃瞄中查找出來的缺陷進行定位
TEST 37 - 在對磁頭2-3楔形掃瞄中查找出來的缺陷進行定位
TEST 3A - 使用1重複讀取所有磁頭拋光和缺陷測試，重複50次
TEST 3B - 建立缺陷表；填充受損磁頭0，1
TEST 3C - 建立缺陷表；填充受損磁頭2，3
TEST 3D - 建立缺陷表；填充受損磁頭4，5
TEST 3E - 建立缺陷表；填充受損磁頭6，7
TEST 3F - 回送測試，寫通過測試
錯誤率性能測試
TEST 40- 開始/停止（10次）
TEST 41- 磁道侵入
TEST 42- SPIN STAND模擬器- 區域較小錯誤碧綠
TEST 43- RAM 測試
TEST 46- 數據編譯比率
TEST 47- 冷寫/磁道擦除顯示
TEST 48- 錯誤率，寫通過
TEST 49- 寫/讀/比較（零式樣）
TEST 4A- 補償係數檢測
TEST 4B- 讀
TEST 4B -所有磁道冷寫顯示
TEST 4C- 磁頭飛行高度測量
TEST 4D- 收集自動FA數據
TEST 4E- 檢查積累健康和創建自檢概要
TEST 4F- 失敗磁盤測試
TEST 50- 通過磁盤測試

AGE 50正常就為正常 再寫入APP to HDD 就可

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使用中國工具 準備com 線就可


  

   
原作:http://bbs.intohard.com/thread-111709-1-1.html
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