由於某大公司的誤導,
Servo Pattern 寫入方法
1.
Servo Wedge
指令E4E 檢查已做好的self writing 流程跟時間 (Exam 4E)
指令T4E 檢驗預定做的Self Writing流程
Self Writing 啟動方式
1./1 /t 載入cert table
2.
硬碟AGE
硬盤安裝和伺服校正測試
TEST 01 - 製造臨時日誌
TEST 02 - 格式化和測試錯誤日誌
磁頭和電路校正測試
TEST 03 - 伺服校正信息
TEST 04 - 斜波加載/卸載測試
TEST 05 - 傳感器滯後測試
TEST 06 - 磁頭切換測試
TEST 07 - RUNOUT補償測試
TEST 08 - 當檢查伺服錯誤時盤上寫入2T類型
TEST 09 - 磁頭低飛顯示
TEST 0A - 磁頭穩定性測試
TEST 0C - 讀取伺服缺陷測試位置
TEST 0D - 重學RRO ZAP測試
TEST 0E - 尋找跳過柱面測試(還未實現過)
TEST 0F - 當前寫測試 磁頭和電路校正測試
TEST 10 - 1E, 2A - 2E 適配區域#(最後區域)通過 0 -所有磁頭
TEST 1F - 顯示適配性,VCO,和DIODE溫度設置
TEST 2F - 顯示FIR適應性設置 伺服性能驗證測試
TEST 20, TEST 60 - 伺服訪問次數
TEST 21, TEST 25 - RRO/NRRO 測試
TEST 23 - 開始/停止 (10次)
TEST 24 - 開始/停止 (2000次)
TEST 29 - 伺服缺陷掃瞄
缺陷查找和再分配測試
TEST 30 - 驗證所有磁盤組讀取,AT級
TEST 31 - 楔形缺陷掃瞄. 磁頭 0-1無讀取級,50寫級
TEST 32 - 楔形缺陷掃瞄. 磁頭 2-3無讀取級,50寫級
TEST 36 - 在對磁頭0-1楔形掃瞄中查找出來的缺陷進行定位
TEST 37 - 在對磁頭2-3楔形掃瞄中查找出來的缺陷進行定位
TEST 3A - 使用1重複讀取所有磁頭拋光和缺陷測試,重複50次
TEST 3B - 建立缺陷表;填充受損磁頭0,1
TEST 3C - 建立缺陷表;填充受損磁頭2,3
TEST 3D - 建立缺陷表;填充受損磁頭4,5
TEST 3E - 建立缺陷表;填充受損磁頭6,7
TEST 3F - 回送測試,寫通過測試
錯誤率性能測試
TEST 40- 開始/停止(10次)
TEST 41- 磁道侵入
TEST 42- SPIN STAND模擬器- 區域較小錯誤碧綠
TEST 43- RAM 測試
TEST 46- 數據編譯比率
TEST 47- 冷寫/磁道擦除顯示
TEST 48- 錯誤率,寫通過
TEST 49- 寫/讀/比較(零式樣)
TEST 4A- 補償係數檢測
TEST 4B- 讀
TEST 4B -所有磁道冷寫顯示
TEST 4C- 磁頭飛行高度測量
TEST 4D- 收集自動FA數據
TEST 4E- 檢查積累健康和創建自檢概要
TEST 4F- 失敗磁盤測試
TEST 50- 通過磁盤測試